一、Minitab簡(jian)介及常(chang)用圖(tu)形工具
1. Minitab界(jie)面介(jie)紹
2. Minitab工具欄
3. Minitab文件類(lei)型
4. Minitab數(shu)據處理
5. Minitab常用(yong)圖(tu)形工具（直方圖(tu)、箱(xiang)線圖(tu)、餅圖(tu)、時間序(xu)列圖(tu)、3D散(san)點圖(tu)、3D曲(qu)面圖(tu)、Pareto圖(tu)、因果圖(tu)、多變異圖(tu)）
二、假設檢驗
1. 統計基礎
2. 假設檢驗的(de)基本思想與步(bu)驟
3. 均值檢(jian)驗（單樣本Z、單樣本t、雙(shuang)樣本t、配對t）
4. 比(bi)率(lv)檢驗（單(dan)比(bi)率(lv)、雙比(bi)率(lv)）
5. 方差(cha)檢驗(yan)（單(dan)方差(cha)、雙方差(cha)）
三(san)、相關分(fen)析(xi)和回(hui)歸(gui)分(fen)析(xi)
1. 相關分析
2. 回歸方程的建立(li)、顯著性檢驗及總(zong)效(xiao)果度量
3. 回歸系數的(de)顯著性(xing)檢驗
4. 回歸方(fang)程的殘差診斷
5. 回歸預測
四、方差分析
1. 變異(yi)源分析基礎(chu)
2. 因(yin)子間的嵌套關系
3. 因子間的交叉(cha)關系
4. 單因子方差分(fen)析
5. 雙因子(zi)嵌套方(fang)差分(fen)析(xi)
6. 雙因子交叉(cha)方差分析(xi)
五、測量系統分析
1. 量具(ju)線(xian)性和偏倚研究
2. 量(liang)具重復性和(he)再現性（交叉）研究(jiu)
3. 破壞性試(shi)驗的(de)測量(liang)系統分析
4. 計(ji)數(shu)型(xing)測量系統能力分(fen)析(xi)
六、統計過程控制
1. 控制圖基(ji)礎理論
2. Box-Cox變(bian)換(huan)
3. 計量值(zhi)控制(zhi)圖(tu)（Xbar-R、Xbar-S、I-MR）
4. 屬性(xing)控制圖（P、NP、C、U）
5. 時間加權(quan)控制圖（EWMA、CUSUM）
七、過程能力分析
1. 計量數據的過程能力分析
2. 計(ji)數數據(ju)的過程能(neng)力分析(xi)
3. 非(fei)正(zheng)態數據(ju)的過(guo)程能力(li)分析
八、試驗設計
1. 全因(yin)子(zi)試驗設(she)計
2. 部分(fen)因子試驗設計
3. 響應曲面(mian)設計 |
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