測試流程
目標：了(le)解完整測試(shi)流(liu)程
內容：測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)開發(fa)過(guo)程(cheng)、測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)實施流(liu)(liu)程(cheng)、測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)維護(hu)流(liu)(liu)程(cheng)、測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)問題分析流(liu)(liu)程(cheng)、測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)管理(li)流(liu)(liu)程(cheng)
ADAS系統介紹
目(mu)標：了解(jie)ADAS基礎知識
內容：ADAS現狀(zhuang)及發展(zhan)趨(qu)勢、ADAS基本(ben)功能等
HIL測試系(xi)統介紹
目標：了(le)解(jie)HIL測試系統
內容：HIL系(xi)統概念、HIL系(xi)統結構(gou)，包括每個部分的(de)主要作(zuo)用
ADAS HIL測(ce)試系(xi)統介(jie)紹
目(mu)標：了解ADAS HIL測試
內容：ADAS測試方案、ADAS測試系統組成等
ADAS系統電子電氣功能測(ce)試技術(shu)
目標(biao)：了解(jie)功能測試設(she)計(ji)方法(fa)及其(qi)在(zai)ADAS系統測試上的應用
內容：等(deng)價類劃分法、邊界值法、MCDC分析、因果圖分析、猜錯法等(deng)方法及其在ADAS系統(tong)功能測試上的運用
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