課程大綱： 統計過程控制SPC高級應用培訓
第一部分：常(chang)規控(kong)制圖進(jin)階（實戰／易錯的(de)地(di)方/誤區／局限性(xing)）
1. 常規控制圖所涉及的統計(ji)理論和使用(yong)條件
l 理論基礎
l 使用條件(jian)，及各(ge)條件(jian)是否滿足的檢驗(yan)方(fang)法
2. 在建(jian)立控制(zhi)圖時容易(yi)忽略(lve)的方面
l 準備不充分
? 相應的資源
2 專門的人員
2 工作流(liu)程(cheng)（程(cheng)序）
2 數據采集、上傳、分析和報警
2 反饋機制(zhi)的建立
? 所要控制的(de)特性
2 定義使用SPC的過程和特(te)性
? 使不必要的變差小化（已(yi)知、顯著(zhu)且可永久(jiu)性糾正的，不必使用控制(zhi)圖(tu)來識別的變差）
? 確認測量系統的能(neng)力(li)是(shi)足(zu)夠的
l 控(kong)制圖的建立(li)流(liu)程(cheng)及(ji)易犯的錯誤
? 基本步驟練習
? 子組定義和抽樣方案及常見誤區
2 子組容量與探測靈敏(min)度的探討及其應用
2 抽樣頻率
2 多生產(chan)流的抽樣
? 對(dui)制造過程和數據的認識 - 針對(dui)常(chang)規(gui)控制圖的制作條(tiao)件
2 典型的不(bu)符合常(chang)規(gui)控制(zhi)圖建立條件的制(zhi)造過程舉例
2 如(ru)何對初始數(shu)據進行初始的分析
? 控制限的建立
2 需要的子組(zu)數(shu)量（為什(shen)么通常需要25個子組(zu)）
2 關于(yu)控制限標準差的個數
2 關于(yu)控(kong)制圖的誤判率
2 控(kong)制限(xian)與控(kong)制圖的靈敏度
2 均(jun)值-極差(cha)/標準差(cha)控制圖(tu)中為什么需(xu)要先判斷極差(cha)/標準差(cha)圖(tu)
? 過(guo)程控(kong)制解釋（判異準則）
2 典型(xing)(xing)的和非典型(xing)(xing)的失控趨勢
2 分析(xi)失控原因及制定遏(e)制措(cuo)施的途徑：
失(shi)控(kong)類型 + 數據點日志(zhi) + 控(kong)制圖靈(ling)敏度 + 過(guo)程專業知(zhi)識
? 演(yan)示(shi)與練習(xi)：均值-極差圖的(de)制作(zuo)、分(fen)析及遏制措施(shi)
? 受控(kong)與(yu)能力–如何(he)評價分(fen)析用控(kong)制圖可以用于在(zai)線(xian)控(kong)制
l 在線控制圖
? 在線控(kong)制圖的(de)失控(kong)判斷準則與分析用(yong)控(kong)制圖有什么不同
? 常(chang)見的在(zai)線控制圖使用(yong)誤區
? 在(zai)線用控制圖(tu)更新
2 什(shen)么(me)情況(kuang)下需(xu)要更新(xin)
2 更(geng)新時需要(yao)改(gai)變控制圖的哪(na)些地方
l Xbar-S與Xbar-R的比(bi)較(jiao)
l I-MR單值-移動(dong)極差圖
? 使(shi)用條件及(ji)使(shi)用I-MR的(de)典(dian)型制造過(guo)程
? 極差長(chang)度(du)的概念及長(chang)度(du)的選擇（案例(li)演(yan)示(shi)與練習(xi)）
1. 常規控制圖(tu)存在(zai)的局限性分析
第二部分：非(fei)正規條件下的控制圖
1. 概(gai)述
2. 非(fei)正態數據(ju)的控制圖
l 對(dui)數據分布的(de)正態性(xing)的(de)理解
l 非參數方法(fa) - 正態性轉換后仍然(ran)不正態的(de)情況
l 總結
3. 非單一變異源(yuan)數據的控制圖
l 對非單一變(bian)差(cha)源的理解
l I-MR-R/S控制圖
4. 自(zi)相關（非獨(du)立(li)）數據的(de)控制圖 – 基(ji)于AR模型的(de)殘差(cha)控制圖
第(di)三部(bu)分(fen)：特(te)殊控制圖
1. Z-MR（標(biao)準化單(dan)值圖(tu)，適用(yong)于(yu)多品種小批量產品過程(cheng)的(de)控制）
2. 時間(jian)加(jia)權控制圖(tu) -適用于均(jun)值變(bian)化微小的(de)情(qing)況
l EWMA時間加權移動平均控制(zhi)圖
l CUSUM累積和控制圖
第四部(bu)分：多變量(liang)正態控制圖
1. 概述
2. T方(fang)控制圖
3. 廣義(yi)方差(cha)控制(zhi)圖
4. 多變量(liang)EWMA控制圖
計量型控制圖的選擇方(fang)法(fa)及綜合練習
第五(wu)部分：過程(cheng)能力分析
1. 過程能力&性能的概念與基本(ben)步驟(zou)
2. CP與CPK，以(yi)及CPK與PPK的聯合應(ying)用
3. 基于目標(biao)值的過程能力分(fen)析
4. 單邊公差時(shi)，如(ru)何(he)進行(xing)基于目標值的過程能力分(fen)析(xi)
5. 設備能力指數(shu)Cmk
6. 組間和(he)組內過程能力(li)分析
7. 非正態(tai)數據的過程(cheng)能力分析
8. 多(duo)變量分布的過程能(neng)力
過程能力(li)分(fen)析綜合(he)練習
第(di)六部分(fen)：基(ji)于概率的控制(zhi)圖
1. 紅綠信號燈(deng)控制圖
2. 預控制圖
第七部(bu)分：企(qi)業如(ru)何推行統計過(guo)程控制
1. 獲得領(ling)導層的哪(na)些支持
2. 試應(ying)用
3. 成果展示
4. 推廣應用(yong)
加入高級會員獲得助教答疑
